Comparative study of reliability degradation behaviors of LDMOS and LDMOS-SCR ESD protection devices-猫眼课题宝

DOI：

10.1016/j.microrel.2015.12.024

发表时间：

2016-06

期刊：

Microelectron. Reliab.

影响因子：

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通讯作者：

中科院分区：

其他

文献类型：

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作者：

Zhihui Yu;Hao Jin;S. Dong;H. Wong;J. Zeng;Weihuai Wang