1T-TaS2二次元結晶デバイスにおける電圧ノイズ測定
1T-TaS2二次元結晶デバイスにおける電圧ノイズ測定
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1T-TaS2二维晶体器件电压噪声测量
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岩佐義宏
中科院分区：
文献类型：
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作者：
吉田将郎;佐藤拓朗;賀川史敬;岩佐義宏
