Yoshinori Chikaura: "Observation of Microdefects in a Thin Silicon Crystal by means of Ultra-Plane-Wave Topography" Photon Factory Activity Report. 5. 361 (1988)
Yoshinori Chikaura: "Observation of Microdefects in a Thin Silicon Crystal by means of Ultra-Plane-Wave Topography" Photon Factory Activity Report. 5. 361 (1988)
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Yoshinori Chikaura：“通过超平面波形貌观察薄硅晶体中的微缺陷”光子工厂活动报告。
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