Trends in testing integrated circuits
Trends in testing integrated circuits
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测试集成电路的趋势
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
R. V. Rijsinge
中科院分区：
文献类型：
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作者：
B. Vermeulen;C. Hora;B. Kruseman;E. Marinissen;R. V. Rijsinge
新的工艺技术、增加的设计复杂性和更严格的客户质量要求推动了对更好的测试质量、改进的测试程序开发以及以更低的总体产品成本更快的提升的需求。在本文中，我们描述了飞利浦内部应用的主要行业测试趋势和测试集成电路的最新创新。
New process technologies, increased design complexity, and more stringent customer quality requirements drive the need for better test quality, improved test program development, and faster ramp-up at overall lower product cost. In this paper we describe the main industry test trends and recent innovations in testing integrated circuits as they are applied within Philips.