High-resolution photoemission study of the temperature-dependent c-f hybridization gap in the Kondo semiconductor YbB_12
High-resolution photoemission study of the temperature-dependent c-f hybridization gap in the Kondo semiconductor YbB_12
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近藤半导体 YbB_12 中随温度变化的 c-f 杂化带隙的高分辨率光电研究
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Takeda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D.A.Tayurskii;K.Matsumoto;Y.Takeda
