電子線ホログラフィーによる半導体内部ポテンシャル分布の精密計測
電子線ホログラフィーによる半導体内部ポテンシャル分布の精密計測
复制标题
利用电子束全息术精确测量半导体内部电位分布
DOI：
--
复制
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
穴田智史
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Kurenkov;S. DuttaGupta;C. Zhang;S. Fukami;Y. Horio;and H. Ohno;権裕煥，鶴峯義久，本仲君子，三好誠司，松原崇充;前田凌佑，奥田貴史，引原隆士;穴田智史
