ESR Study on Interfacial Trap States in Organic Thin-Film Transistors
ESR Study on Interfacial Trap States in Organic Thin-Film Transistors
复制标题
有机薄膜晶体管界面陷阱态的ESR研究
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tatsuo Hasegawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroyuki Matsui;Andrei S.Mishchenko;Tatsuo Hasegawa
