論理BISTにおけるスキャンイン電力 制御手法とTEG評価
論理BISTにおけるスキャンイン電力 制御手法とTEG評価
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逻辑BIST中的扫描输入功率控制方法和TEG评估
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
温暁青
中科院分区：
文献类型：
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作者：
加藤隆明;王森レイ;佐藤康夫;梶原誠司;温暁青
