Calibrating nadir striped artifacts in a multibeam backscatter image using the equal mean-variance fitting model
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使用等均方差拟合模型校准多光束反向散射图像中的最低点条纹伪影
DOI：
10.1117/1.jrs.11.035020
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发表时间：
2017
影响因子：
1.7
通讯作者：
Ma Yue
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yang Fanlin;Zhao Chunxia;Zhang Kai;Feng Chengkai;Ma Yue
