酸化物薄膜や金属電極の埋もれた界面構造解析のための硬X線定在波測定用光学系、口頭発表
酸化物薄膜や金属電極の埋もれた界面構造解析のための硬X線定在波測定用光学系、口頭発表
复制标题
用于测量硬 X 射线驻波的光学系统，用于氧化物薄膜和金属电极的掩埋界面结构分析，口头报告
DOI：
--
复制
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
今井康彦
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
坂田修身;工藤統吾;今井康彦
