IGBT单粒子烧毁效应的二维仿真

IGBT单粒子烧毁效应的二维仿真
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DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
电子与封装
影响因子:
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通讯作者:
陈万军
陈万军
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
王珣阳;潘建华;陈万军

文献摘要

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