Continual deformation analysis with scanning phase method and time sequence phase method in temporal speckle pattern interferometry
Continual deformation analysis with scanning phase method and time sequence phase method in temporal speckle pattern interferometry
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DOI：
10.1016/s0030-3992(00)00117-1
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发表时间：
2001-02
影响因子：
5
通讯作者：
Xide Li;G. Tao;Yizhang Yang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Xide Li;G. Tao;Yizhang Yang
