Lower Critical Dimension and the Roughening Transition of the Random-Field Ising Model
Lower Critical Dimension and the Roughening Transition of the Random-Field Ising Model
复制标题
随机场伊辛模型的下临界维数和粗糙化转变
DOI：
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发表时间：
1981
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. Mukamel
中科院分区：
文献类型：
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作者：
E. Pytte;Y. Imry;D. Mukamel
