X-STM measurements of band bending across GaAs/AlAs heterojunction
X-STM measurements of band bending across GaAs/AlAs heterojunction
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GaAs/AlAs 异质结能带弯曲的 X-STM 测量
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and J. Yoshino
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Kaku;M. Tsukui;T. Ando;and J. Yoshino
