マイクロ集光軟X線角度分解光電子分光によるワイドギャップ半導体h-BN薄片のバルク電子状態観測
マイクロ集光軟X線角度分解光電子分光によるワイドギャップ半導体h-BN薄片のバルク電子状態観測
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使用微聚焦软 X 射线角分辨光电子能谱观察宽禁带半导体 h-BN 薄片中的体电子态
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
笹川崇男
中科院分区：
文献类型：
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作者：
田中宏明;小林賢;福島優斗;新井陽介;飯盛拓嗣;山神光平;小谷佳範;小森文夫;黒田健太;近藤猛;笹川崇男
