Disperstion relation of charge gap excitations in quasi-ID Mott insulators studied by resonant X-ray scattering
Disperstion relation of charge gap excitations in quasi-ID Mott insulators studied by resonant X-ray scattering
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通过共振 X 射线散射研究准 ID 莫特绝缘体中电荷间隙激发的色散关系
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D.Qian
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Sekine;K.Ishikawa;E.Kikuchi;M.Matsukata;田島文子;高田 康民;Katsuaki Kobayashi;Sayaka Inagaki;K.Tsutsui;T.Tohyama;D.Qian
