Koji Nishio: "Quantitative intensity measurement of equal thickness fringes in Si and MgO crystal images with an energy-filtering transmission electron microscope using an imaging plate"Journal of Electron Microscopy. 49. 607-619 (2000)
Koji Nishio: "Quantitative intensity measurement of equal thickness fringes in Si and MgO crystal images with an energy-filtering transmission electron microscope using an imaging plate"Journal of Electron Microscopy. 49. 607-619 (2000)
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Koji Nishio：“使用成像板通过能量过滤透射电子显微镜对 Si 和 MgO 晶体图像中等厚条纹进行定量强度测量”电子显微镜杂志。
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