トラン ゴック デュエト: "薄膜SOI MOSFETのチャージポンピング測定における形状成分の抑制" 応用物理学会薄膜・表面物理分科会「極薄シリコン酸化膜の形成・評価・信頼性」第3回研究会論文集. 167-170 (1998)
トラン ゴック デュエト: "薄膜SOI MOSFETのチャージポンピング測定における形状成分の抑制" 応用物理学会薄膜・表面物理分科会「極薄シリコン酸化膜の形成・評価・信頼性」第3回研究会論文集. 167-170 (1998)
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Tran Ngoc Duet：“薄膜 SOI MOSFET 电荷泵测量中形状分量的抑制”第三届“超薄氧化硅薄膜的形成、评估和可靠性”研究会议论文集，薄膜和表面物理小组委员会，日本应用物理学会。167 -170 (1998)
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