コアシェル構造SiCナノワイヤの界面静電場によるピエゾ抵抗効果の制御
コアシェル構造SiCナノワイヤの界面静電場によるピエゾ抵抗効果の制御
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核壳结构SiC纳米线中界面静电场控制压阻效应
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
磯野 吉正
中科院分区：
文献类型：
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作者：
上杉 晃生;仲田 進哉;菅野 公二;磯野 吉正
