RELIABILITY OF PROBE MEASUREMENTS IN HOT CATHODE GAS DIODES
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DOI：
10.1063/1.1702342
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发表时间：
1952-01-01
影响因子：
3.2
通讯作者：
MEDICUS, G
中科院分区：
文献类型：
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作者：
WEHNER, G;MEDICUS, G
