シリコンマイクロストリップ検出器を使用した陽子線断層撮影システムの研究
シリコンマイクロストリップ検出器を使用した陽子線断層撮影システムの研究
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硅微带探测器质子断层成像系统研究
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
皿谷有一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kota Torikai;Satoru Yamada;Tatsuaki Kanai;Eri Takeshita;Ken Yusa;Mutsumi Tashiro;Hirofumi Shimada;Takashi Nakano;皿谷有一
