In situ analysis of a Pt thin film H2 gas sensor surface by AP-XPS
In situ analysis of a Pt thin film H2 gas sensor surface by AP-XPS
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利用 AP-XPS 对 Pt 薄膜 H2 气体传感器表面进行原位分析
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and H. Kondoh
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Toyoshima;and H. Kondoh
