Static assessment of nanoscale notched silicon beams using the averaged strain energy density method
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DOI：
10.1016/j.tafmec.2018.03.007
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发表时间：
2018-06
影响因子：
5.3
通讯作者：
P. Gallo;T. Sumigawa;T. Kitamura;F. Berto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Gallo;T. Sumigawa;T. Kitamura;F. Berto
