Density functional theory (DFT)-based modified embedded atom method potentials: Bridging the gap between nanoscale theoretical simulations and DFT calculations
Density functional theory (DFT)-based modified embedded atom method potentials: Bridging the gap between nanoscale theoretical simulations and DFT calculations
复制标题
基于密度泛函理论 (DFT) 的改进嵌入式原子方法潜力：弥合纳米级理论模拟和 DFT 计算之间的差距
DOI：
10.1007/s11426-010-0069-0
复制
发表时间：
2010-02
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Fan Yang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Lihui Ou;Shengli Chen;X Wang;Yuwen Liu;Fan Yang
提出了一种基于密度泛函理论（DFT）的面心立方（fcc）金属改进嵌入原子方法（MEAM）势的计算方法。输入量经过精心选择，并在参数化方案中引入了更可靠的DFT表面能测定方法，使MEAM能够精确预测金属材料的表面和纳米级性质。对Pt和Au晶体的分子动力学模拟表明，采用的参数化方法显著提高了MEAM计算表面和纳米尺度性质的准确性，计算结果与DFT计算和实验观测结果吻合较好.目前的研究表明，合理的DFT参数化的MEAM可能会导致一个理论工具，以弥合纳米级理论模拟和DFT计算之间的差距。
A density functional theory (DFT)-calculation scheme for constructing the modified embedded atom method (MEAM) potentials for face-centered cubic (fcc) metals is presented. The input quantities are carefully selected and a more reliable DFT approach for surface energy determination is introduced in the parameterization scheme, enabling MEAM to precisely predict the surface and nanoscale properties of metallic materials. Molecular dynamics simulations on Pt and Au crystals show that the parameterization employed leads to significantly improved accuracy of MEAM in calculating the surface and nanoscale properties, with the results agreeing well with both DFT calculations and experimental observations. The present study implies that rational DFT parameterization of MEAM may lead to a theoretical tool to bridge the gap between nanoscale theoretical simulations and DFT calculations.
登录
查看更多内容
影响因子：
3.3
作者：
M. Oudenhuijzen;J. H. Bitter;D. C. Koningsberger
通讯作者：
M. Oudenhuijzen;J. H. Bitter;D. C. Koningsberger
影响因子：
2.7
作者：
Fiorentini, V;Methfessel, M
通讯作者：
Methfessel, M
影响因子：
8.6
作者：
DAW, MS;BASKES, MI
通讯作者：
BASKES, MI
影响因子：
8.6
作者：
Jóhannesson, GH;Bligaard, T;Norskov, JK
通讯作者：
Norskov, JK
影响因子：
1.9
作者：
J. Luyten;M. Schurmans;C. Creemers;Bs Bouke Bunnik;G. Kramer
通讯作者：
J. Luyten;M. Schurmans;C. Creemers;Bs Bouke Bunnik;G. Kramer