Y. Suzuki, Y. Chikaura, M. Imai: "Laue-Case Plane Wave Topography using Synchrotron Radiation to Reveal Microdefects in a thinned Silicon Crystal" Jpn. J. Appl. Phys.32. L958-961 (1993)
Y. Suzuki, Y. Chikaura, M. Imai: "Laue-Case Plane Wave Topography using Synchrotron Radiation to Reveal Microdefects in a thinned Silicon Crystal" Jpn. J. Appl. Phys.32. L958-961 (1993)
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Y. Suzuki、Y. Chikaura、M. Imai：“使用同步辐射的劳厄案例平面波形貌术揭示薄硅晶体中的微缺陷”Jpn。
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