TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価
TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価
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使用TDC内置边界扫描电路评估延迟检测能力
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
橋爪 正樹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
櫻井 浩希;四柳 浩之;橋爪 正樹
