Single-sweep vs. banded characterizations of a D-band ultra-low-loss SiC substrate integrated waveguide
Single-sweep vs. banded characterizations of a D-band ultra-low-loss SiC substrate integrated waveguide
复制标题
D 波段超低损耗 SiC 衬底集成波导的单次扫描与带状表征
DOI：
--
复制
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hwang, J. C.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Li, L.;Reyes, S.;Asadi, M. J.;Jena, D.;Xing, H. G.;Fay, P.;Hwang, J. C.
