放射光トポグラフィーによるSiC中の基底面転位の深さ評価
放射光トポグラフィーによるSiC中の基底面転位の深さ評価
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使用同步辐射地形图对 SiC 基面位错进行深度评估
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
宇治原徹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
藤榮文博;Hongyu Peng;Tuerxun Ailihumaer;Balaji Raghothamachar;Michael Dudley;原田俊太;田川美穂;宇治原徹
