T.Kiwa, M.Tonouchi, M.Yamashita, K.Kawase: "Laser-terahertz emission microscope for inspecting electrical faults in integrated circuits"Optics Letters. 28・21. 2058-2063 (2003)
T.Kiwa, M.Tonouchi, M.Yamashita, K.Kawase: "Laser-terahertz emission microscope for inspecting electrical faults in integrated circuits"Optics Letters. 28・21. 2058-2063 (2003)
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T.Kiwa、M.Tonouchi、M.Yamashita、K.Kawase：“用于检查集成电路电气故障的激光太赫兹发射显微镜”光学快报 28・21（2003 年）。
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