Thermally Robust Y_2O_3/Ge MOS Capacitors

Thermally Robust Y_2O_3/Ge MOS Capacitors
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耐热 Y_2O_3/Ge MOS 电容器

DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Extended Abstracts of 2005 International Conference on Solid State Devices and Materials 2005
影响因子：
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通讯作者：
A.Toriumi
A.Toriumi
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
H.Nomura;K.Kita;K.Kyuno;A.Toriumi

文献摘要

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