Surface profile detection with nanostructures using a Mueller matrix polarimeter
Surface profile detection with nanostructures using a Mueller matrix polarimeter
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使用 Mueller 矩阵旋光计检测纳米结构的表面轮廓
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Mizutani
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Otani;T. Kuwagaito;Y. Mizutani
