Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method
Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method
复制标题
电荷放大法测量二次电子产率
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Nagatomi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Miyagawa;M.Inoue;T.Iyasu;Y.Hashimoto;K.Goto;R.Shimizu;T.Nagatomi
