A Reliability Study of Thickness Dependence of HfO2-based 3D-FeRAM Cell
A Reliability Study of Thickness Dependence of HfO2-based 3D-FeRAM Cell
复制标题
HfO2 基 3D-FeRAM 单元厚度依赖性的可靠性研究
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Ma, T.P.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Maher, Olivier;Jiang, Hao;Liu, Zhan;and Ma, T.P.
