Effect of interface roughness on hysteresis loops of ultrathin Co films from 2 to 30 ML on Cu(001) surfaces
Effect of interface roughness on hysteresis loops of ultrathin Co films from 2 to 30 ML on Cu(001) surfaces
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界面粗糙度对 Cu(001) 表面 2 至 30 ML 超薄 Co 薄膜磁滞回线的影响
DOI：
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发表时间：
1997
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Gwo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Q. Jiang;H.‐N. Yang;Gwo
