Ｘ線回折極点図測定を用いたGaInSb HEMT構造中の双晶評価
Ｘ線回折極点図測定を用いたGaInSb HEMT構造中の双晶評価
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使用 X 射线衍射极图测量评估 GaInSb HEMT 结构的孪晶
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
藤代博記
中科院分区：
文献类型：
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作者：
海老原怜央;國澤宗真;羽鳥小春;吉田陸人;渡邊一世;町田龍人;山下良美;原 紳介;笠松章史;遠藤 聡;藤代博記
