マイクロフォーカス X 線 CT による粒状体の三軸圧縮下における全粒子追跡手法の開発
マイクロフォーカス X 線 CT による粒状体の三軸圧縮下における全粒子追跡手法の開発
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三轴压缩颗粒材料微焦点X射线CT全颗粒跟踪方法的发展
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高野 大樹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Satoru Nakajo;Yoshihide Sekimoto;Ryosuke Shibasaki;高野 大樹
