Shigeyasu Tanaka: "Characterization of Etch Pits and Correlated Defects in ZnSe/(001) GaAs" Microscopy Research and Technique. 43. 518-519 (1998)
Shigeyasu Tanaka: "Characterization of Etch Pits and Correlated Defects in ZnSe/(001) GaAs" Microscopy Research and Technique. 43. 518-519 (1998)
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Shigeyasu Tanaka：“ZnSe/(001) GaAs 中的蚀刻坑和相关缺陷的表征”显微镜研究和技术。
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