~3He正比计数器探测效率模拟及灵敏度刻度

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DOI:
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发表时间:
2012
期刊:
核技术
影响因子:
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通讯作者:
田文栋
田文栋
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
刘应都;张国强;王宏伟;田文栋

文献摘要

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