Takao Hanabusa: "Evaluation of internal stresses in single-, double-and multi-layered TiN and TiAlN thin films by synchrotron radiation"JSME International Journal. (submitted).
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Takao Hanabusa：“通过同步辐射评估单层、双层和多层 TiN 和 TiAlN 薄膜的内应力”JSME 国际期刊。
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