K.Takanashi, H.Wu, N.Ono, Zh.H.Cheng, T.Sakamoto, M.Owari and Y.Nihei: "Three-dimensional microanalysis of the wire-padcontact region of integrated circuit"Inst.Phys.Conf.Ser.. No.165 : Symposium 9, IOP Publishing. 355-356 (2000)
K.Takanashi, H.Wu, N.Ono, Zh.H.Cheng, T.Sakamoto, M.Owari and Y.Nihei: "Three-dimensional microanalysis of the wire-padcontact region of integrated circuit"Inst.Phys.Conf.Ser.. No.165 : Symposium 9, IOP Publishing. 355-356 (2000)
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K.Takanashi、H.Wu、N.Ono、Zh.H.Cheng、T.Sakamoto、M.Owari 和 Y.Nihei：“集成电路导线-焊盘接触区域的三维微观分析”Inst.Phys.Conf
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