Nanosecond time-resolved Raman thermography: Probing device and channel temperature in pulsed GaN and GaAs HEMTs
Nanosecond time-resolved Raman thermography: Probing device and channel temperature in pulsed GaN and GaAs HEMTs
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纳秒时间分辨拉曼热成像：探测脉冲 GaN 和 GaAs HEMT 中的器件和通道温度
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Martin Kuball (Author)
中科院分区：
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作者：
Martin Kuball (Author)
