Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
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DOI：
10.1007/978-3-642-22566-6
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Sadewasser;T. Glatzel
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Sadewasser;T. Glatzel
