T.Nishino: ""A New High-Sensitivity Charactezation Method of Interface Stress at Heterostructures by Cr-Related Luminescence"" IEEE Quantum Electronics. QE-25. (1989)
T.Nishino: ""A New High-Sensitivity Charactezation Method of Interface Stress at Heterostructures by Cr-Related Luminescence"" IEEE Quantum Electronics. QE-25. (1989)
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T.Nishino：“一种通过 Cr 相关发光来表征异质结构界面应力的新高灵敏度方法”，IEEE 量子电子学。
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