軟X線GISAS法による高分子薄膜の構造評価
軟X線GISAS法による高分子薄膜の構造評価
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使用软 X 射线 GISAS 方法评估聚合物薄膜的结构
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
北島
中科院分区：
文献类型：
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作者：
竹下;加藤;奥田;落合;櫻井;藤原;北島
