K.Kuroda: "TEM pin-pointed specimen preparation by focused ion beam fabrication" Proc.of 12th Annual Conference on Analytical Electron Microscopy. 53-58 (1996)
K.Kuroda: "TEM pin-pointed specimen preparation by focused ion beam fabrication" Proc.of 12th Annual Conference on Analytical Electron Microscopy. 53-58 (1996)
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K.Kuroda：“通过聚焦离子束制造进行 TEM 精确样品制备”第 12 届分析电子显微镜年会论文集。
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