験と時間に依存したFear Circuitの再構成
験と時間に依存したFear Circuitの再構成
复制标题
实验性和时间依赖性恐惧回路重建
DOI：
--
复制
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
関口正幸
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
永福 智志，De Souza WC;中田 龍三郎，小野 武年，田村 了以;花川 隆;関口正幸;田村 了以，内山 久美子，上野 照子，永福 智志;関口正幸
