Characterization of spin pumping effect in nanometer-sized lateral devices.
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纳米级横向器件中自旋泵浦效应的表征。
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Seki and K. Takanashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Yamamoto;T. Seki and K. Takanashi
