M. Yoshimura, T. An, and K. Ueda: "Observation of Si(110) surfaces by high-temperature scanning tunneling mircoscopy"Jpn. J. Appl. Phys.. 39. 4432-4434 (2000)
M. Yoshimura, T. An, and K. Ueda: "Observation of Si(110) surfaces by high-temperature scanning tunneling mircoscopy"Jpn. J. Appl. Phys.. 39. 4432-4434 (2000)
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M. Yoshimura、T. An 和 K. Ueda：“通过高温扫描隧道显微镜观察 Si(110) 表面”Jpn。
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