Takeaki Sakurai: "SiCl SiO_2 interface states observed by x-ray photoelectron Spectroscopy measurements under bias"Appl.Phys.Lett.. 86. 96-98 (2001)
Takeaki Sakurai: "SiCl SiO_2 interface states observed by x-ray photoelectron Spectroscopy measurements under bias"Appl.Phys.Lett.. 86. 96-98 (2001)
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樱井武明：“偏压下 X 射线光电子能谱测量观察到的 SiCl SiO_2 界面态”Appl.Phys.Lett.. 86. 96-98 (2001)
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