T.Goto and K.Hane: "Capacitance microscopy with a semiconductor Prode" The 5th International Colloguium on Scanning Tunnel Mioroscopy. 45 (1997)
T.Goto and K.Hane: "Capacitance microscopy with a semiconductor Prode" The 5th International Colloguium on Scanning Tunnel Mioroscopy. 45 (1997)
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T.Goto 和 K.Hane：“采用半导体 Prode 的电容显微镜”第五届国际扫描隧道显微镜研讨会。
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